随着AI大模型和智能算力的快速发展，SSD、控制器和存储系统需要面对越来越复杂的工作负载。如何测得准、测得全，并通过测试发现真实应用中的问题，已经成为产品创新的重要一环。
2026 全球闪存峰会会场
2026年8月26日在武汉光谷召开的全球闪存峰会上，深圳数合泰存储测试事业部产品线总经理成卓敏发表了题为《迎接智能芯时代——AI存储测试技术的创新与产业实践》的演讲。他提出，AI与存储测试的结合，核心是要解决三个问题：测试设备如何把数据测准？测试过程如何沉淀完整可追溯的数据？长期积累的测试数据如何被AI理解和利用，实现驱动AI预测、失效分析和测试决策？而数合泰已经做好了准备。
深圳数合泰存储测试事业部产品线总经理成卓敏
成卓敏在演讲中强调：“设备决定证据质量，证据质量决定AI判断上限。”“可信数据是AI判断的基础。”。
数合泰构建的是一条从测试执行到策略迭代的完整能力链。在装备布局方面，数合泰以NAND颗粒测试为核心，覆盖SSD系统测试、嵌入式存储测试以及系统级测试，将测试和验证能力从NAND颗粒延伸到模组和系统层面，为不同层级的数据关联与质量反馈提供装备基础。
AI不是替代测试，而是让测试不断进化。
数合泰认为，AI存储测试不是从模型开始，而是从可信测量开始。只有测试设备能够稳定执行、准确施加并完整记录，AI才有可靠的数据基础。当这些数据持续积累以后，AI才能进一步参与寿命预测、异常分析和测试决策。而通过NAND与SSD之间的质量闭环，经过确认的系统级异常，又可以反向推动测试Pattern、筛选规则和测试算法持续迭代。
在演讲最后，成卓敏总结说：“AI不是替代测试，而是让每一次测试结果，都能成为下一次测试优化的依据。”
这或许正是AI赋能存储测试最核心的价值所在。
