ODS 2003:东芝展出36GB可擦写单面双层AOD光盘
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关键词:东芝
光盘的结构如下:沿激光入射方向依次是,聚碳酸酯底板、电介质膜、界面层、取代铋的Ge-Sb-Te膜、界面层、电介质膜、银合金、散热ZnS膜、层间分隔膜、电介质膜、界面层、取代铋的Ge-Sb-Te膜、界面层、电介质膜、银合金、聚碳酸酯底板。
记录层是根据单面双层光盘的条件而设计。比如沿激光入射方向来看最外层的第0记录层,为了提高透过率,必须降低记录膜和反射膜的厚度。但是这样一来消去比就会降低,而且散热性也会下降。因此为了改善消去比,记录膜采用了取代铋的Ge-Sb-Te膜,并设计了Ta2O5界面层。散热性是通过在银合金膜下面追加ZnS膜而得以解决的。记录膜的记录前反射率比记录后高,即采用了“High to Low(由高变低)”的设计。按照这种层结构,沿着激光入射方向来看,内侧的第1记录层也把记录膜改为取代铋的Ge-Sb-Te膜,并设计了Ta2O5界面层,而且记录膜也采用了High to Low设计。
在2枚0.6mm厚的光盘底板上形成各自的记录层以后,把底板相互粘起来,即可完成单面双层光盘。粘接装置直接沿用了现有DVD光盘的设备。
对试制光盘进行了错误率测试,结果确认已达到实用水平:第0记录层数据轨道的岸部(Land)为1.1×10-5,沟部(Groove)为1.5×10-5。第1记录层的岸部为4.9×10-6,沟部为3.7×10-6。
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